Testowanie niezawodności środowiskowej półprzewodników

Urządzenia półprzewodnikowe są bardzo wrażliwe na zanieczyszczenia i kurz.Dlatego bardzo konieczne jest dokładne kontrolowanie poziomu zanieczyszczeń i kurzu w skomplikowanym procesie produkcyjnym.Jakość produktu końcowego jest wystarczająca dla każdego stosunkowo niezależnego i interaktywnego etapu produkcji w produkcji, takiego jak metalizacja, materiał wiórowy, opakowanie itp.

Ze względu na szybki rozwój technologii, w nowo opracowanych urządzeniach stale stosuje się nowe materiały i nowe procesy, a rynek wciąż stawia wysokie wymagania dotyczące czasu projektowania, więc wykonanie projektu niezawodnościowego według istniejących produktów jest w zasadzie niemożliwe.Aby osiągnąć określone wskaźniki ekonomiczne, produkty półprzewodnikowe są zawsze produkowane w dużych ilościach;a naprawa produktów półprzewodnikowych jest niepraktyczna.Dlatego bardzo niezbędnym wymogiem dla produktów półprzewodnikowych stało się dodanie koncepcji niezawodności na etapie projektowania i ograniczenie zmiennych na etapie produkcji.

Niezawodność półprzewodnik urządzenia zależą od montażu, użytkowania i warunków otoczenia.Czynniki wpływające obejmują gaz, kurz, zanieczyszczenia, napięcie, gęstość prądu, temperaturę, wilgotność, naprężenia, drgania posuwisto-zwrotne, silne drgania, ciśnienie i natężenie pola elektromagnetycznego.

Testowanie niezawodności środowiskowej półprzewodników
■ Test cyklu odchylenia temperatury i wilgotności
■ Test trwałości wilgotnego ciepła w stanie ustalonym
■ Wysoce przyspieszony test gotowania
■ Test trwałości przechowywania w wysokiej temperaturze
■ Test cyklu temperaturowego
■ Test cyklu temperatury przy włączaniu
■ Test szoku temperaturowego
■ Test w komorze solnej
■ Test trwałości użytkowej odchylenia od temperatury
■ Wysoce przyspieszony test żywotności
■ Wysoce przyspieszony test żywotności bez uprzedzeń
■ Test wibracji i częstotliwości przemiatania